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ÇѱÛÁ¦¸ñ(Korean Title) AutoMLÀ» Àû¿ëÇÑ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ ¿¹Ãø
¿µ¹®Á¦¸ñ(English Title) Software Defect Prediction with AutoML
ÀúÀÚ(Author) ÃÖÁö¿ø   ÀÌÀç¿í   ·ù´ö»ê   ±è¼øÅ   Jiwon Choi   Jaewook Lee   Duksan Ryu   Suntae Kim  
¿ø¹®¼ö·Ïó(Citation) VOL 48 NO. 02 PP. 0218 ~ 0220 (2021. 12)
Çѱ۳»¿ë
(Korean Abstract)
¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ ¿¹Ãø(SDP)Àº °áÇÔµµ°¡ ³ôÀº ¸ðµâÀ» ½Äº°ÇØ ÇÑÁ¤µÈ Ç°Áú º¸Áõ ÀÚ¿øÀ» È¿°úÀûÀ¸·Î ¹èºÐÇϴµ¥ µµ¿òÀ» ÁØ´Ù. SDP¸¦ À§ÇØ ÀϹÝÀûÀ¸·Î °ú°Å °áÇÔ µ¥ÀÌÅÍÀÇ ÆÐÅÏÀ» ºÐ¼®ÇÏ´Â ¸Ó½Å·¯´× ±â¹ýÀÌ È°¿ëµÈ´Ù. ¸Ó½Å·¯´× ±â¹ý¿¡´Â ¸¹Àº ¸Å°³º¯¼ö°¡ Æ÷ÇÔ µÇ¾îÀÖ°í, ÇÁ·ÎÁ§Æ® µ¥ÀÌÅͺ°·Î ¿¹Ãø ¼º´ÉÀ» ÃÖÀûÈ­Çϱâ À§Çؼ­´Â ¸Å¹ø ¸Å°³º¯¼ö¸¦ Á¶Á¤ÇÏ´Â ÀÛ¾÷ÀÌ ÇÊ¿äÇÏ´Ù. ÃÖ±Ù, ¸Ó½Å·¯´× ¼öÇà °úÁ¤¿¡¼­ ¹Ýº¹ÀûÀÎ ÀÛ¾÷À» ÁÙ¿©ÁÖ´Â ÀÚµ¿È­µÈ ¸Ó½Å·¯´× ±â¹ý(Automated Machine Learning, AutoML)ÀÌ Á¦¾ÈµÇ¾ú´Ù. º» ¿¬±¸¿¡¼­´Â AutoMLÀÌ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ ¿¹Ãø ¿¬±¸¿¡ ÀûÇÕÇÑÁö È®ÀÎÇÏ´Â °ÍÀ» ¸ñÇ¥·Î ÇÑ´Ù. À̸¦ À§ÇØ, °áÇÔ µ¥ÀÌÅÍ¿¡ ´ëÇØ ¼¼°¡Áö AutoML µµ±¸µé(Auto-sklearn,TPOT,H20)ÀÇ ¼º´É°ú ÇнÀ ½Ã°£À» ºñ±³ÇÑ´Ù. ½ÇÇè °á°ú, H20 µµ±¸°¡ °¡Àå ¿ì¼öÇÑ ¼º´ÉÀ» º¸¿´À¸¸ç, ÇнÀ ½Ã°£µµ °¡Àå ª¾Ò´Ù. ¹Ýº¹ÀûÀÎ ÀÛ¾÷À» AutoML µµ±¸¸¦ ÅëÇØ ÁÙ¿©¼­ Çö¾÷¿¡¼­ SDPÀÇ Àû¿ëÀÌ ÃËÁøµÉ °ÍÀ¸·Î ±â´ëÇÑ´Ù.
¿µ¹®³»¿ë
(English Abstract)
Å°¿öµå(Keyword)
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