Current Result Document :
ÇѱÛÁ¦¸ñ(Korean Title) |
AutoMLÀ» Àû¿ëÇÑ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ ¿¹Ãø |
¿µ¹®Á¦¸ñ(English Title) |
Software Defect Prediction with AutoML |
ÀúÀÚ(Author) |
ÃÖÁö¿ø
ÀÌÀç¿í
·ù´ö»ê
±è¼øÅÂ
Jiwon Choi
Jaewook Lee
Duksan Ryu
Suntae Kim
|
¿ø¹®¼ö·Ïó(Citation) |
VOL 48 NO. 02 PP. 0218 ~ 0220 (2021. 12) |
Çѱ۳»¿ë (Korean Abstract) |
¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ ¿¹Ãø(SDP)Àº °áÇÔµµ°¡ ³ôÀº ¸ðµâÀ» ½Äº°ÇØ ÇÑÁ¤µÈ Ç°Áú º¸Áõ ÀÚ¿øÀ» È¿°úÀûÀ¸·Î ¹èºÐÇϴµ¥ µµ¿òÀ» ÁØ´Ù. SDP¸¦ À§ÇØ ÀϹÝÀûÀ¸·Î °ú°Å °áÇÔ µ¥ÀÌÅÍÀÇ ÆÐÅÏÀ» ºÐ¼®ÇÏ´Â ¸Ó½Å·¯´× ±â¹ýÀÌ È°¿ëµÈ´Ù. ¸Ó½Å·¯´× ±â¹ý¿¡´Â ¸¹Àº ¸Å°³º¯¼ö°¡ Æ÷ÇÔ µÇ¾îÀÖ°í, ÇÁ·ÎÁ§Æ® µ¥ÀÌÅͺ°·Î ¿¹Ãø ¼º´ÉÀ» ÃÖÀûÈÇϱâ À§Çؼ´Â ¸Å¹ø ¸Å°³º¯¼ö¸¦ Á¶Á¤ÇÏ´Â ÀÛ¾÷ÀÌ ÇÊ¿äÇÏ´Ù. ÃÖ±Ù, ¸Ó½Å·¯´× ¼öÇà °úÁ¤¿¡¼ ¹Ýº¹ÀûÀÎ ÀÛ¾÷À» ÁÙ¿©ÁÖ´Â ÀÚµ¿ÈµÈ ¸Ó½Å·¯´× ±â¹ý(Automated Machine Learning, AutoML)ÀÌ Á¦¾ÈµÇ¾ú´Ù. º» ¿¬±¸¿¡¼´Â AutoMLÀÌ ¼ÒÇÁÆ®¿þ¾î °áÇÔ ¿¹Ãø ¿¬±¸¿¡ ÀûÇÕÇÑÁö È®ÀÎÇÏ´Â °ÍÀ» ¸ñÇ¥·Î ÇÑ´Ù. À̸¦ À§ÇØ, °áÇÔ µ¥ÀÌÅÍ¿¡ ´ëÇØ ¼¼°¡Áö AutoML µµ±¸µé(Auto-sklearn,TPOT,H20)ÀÇ ¼º´É°ú ÇнÀ ½Ã°£À» ºñ±³ÇÑ´Ù. ½ÇÇè °á°ú, H20 µµ±¸°¡ °¡Àå ¿ì¼öÇÑ ¼º´ÉÀ» º¸¿´À¸¸ç, ÇнÀ ½Ã°£µµ °¡Àå ª¾Ò´Ù. ¹Ýº¹ÀûÀÎ ÀÛ¾÷À» AutoML µµ±¸¸¦ ÅëÇØ ÁÙ¿©¼ Çö¾÷¿¡¼ SDPÀÇ Àû¿ëÀÌ ÃËÁøµÉ °ÍÀ¸·Î ±â´ëÇÑ´Ù. |
¿µ¹®³»¿ë (English Abstract) |
|
Å°¿öµå(Keyword) |
|
ÆÄÀÏ÷ºÎ |
PDF ´Ù¿î·Îµå
|